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HY-775L Lees’ Disc Tester李氏圓盤(pán)試驗(yàn)機(jī)
Lees’ Disc Tester李氏圓盤(pán)試驗(yàn)機(jī)用途:用于各種材料的幫面、襯里和內(nèi)墊于靜態(tài)條件下測(cè)定材料的導(dǎo)熱性能;
Lees’ Disc Tester李氏圓盤(pán)試驗(yàn)機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T3903.15-2008,ISO 17705等標(biāo)準(zhǔn);
Lees’ Disc Tester李氏圓盤(pán)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格
A. 圓柱形銅塊(B1)塊:直徑75mm;高度25mm;中心孔直徑2mm;材質(zhì):高導(dǎo)熱性化合物,導(dǎo)熱性大于0.8W/(m.℃)
Lees’ Disc Tester李氏圓盤(pán)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品配置
A.圓柱形銅塊(B1、B2 、B3 、B4)一套,直徑75mm鐳射切刀一副;
B.產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)一套,出具“CNAS”認(rèn)可校準(zhǔn)報(bào)告書(shū)一份
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